High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability

‏489.00 ₪
+ ‏122.99 ₪ משלוח

High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability

נמכר על ידי:
  • product image

‏489.00 ₪

במלאי
+ ‏122.99 ₪ משלוח

מדיניות החזרות ל-14 יום

אמצעי תשלום:

פרטי מוצר

פרטי מוצר

High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability

Part I: Preliminaries And Previous Work.- Circuits And Testing.- Boolean Satisfiability.- Atpg Based On Boolean Satisfiability.- Part Ii: Sat Techniques And Their Application In Atpg.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part Iii: High Quality Delay Test Generation.- High Quality Atpg For Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary And Outlook.
  • מותג: Springer Nature B.V
  • קטגוריה: מחשוב ואינטרנט
  • מספר עמודים: 212
  • שָׂפָה: English
  • מְחַבֵּר: Stephan Eggersgl
  • מוציא לאור / תווית: Springer Nature B.V
  • פוּרמָט: Paperback
  • תאריך פרסום: 2014-10-20
  • מזהה Fruugo: 557057426-1125325917
  • ISBN: 9781489988478
משלוח

מְסִירָה

שילוח תוך 24 שעות

  • STANDARD: ‏122.99 ₪ - משלוח בין יום ד׳ 18 נובמבר 2026–יום ג׳ 08 דצמבר 2026

משלוח מ- בריטניה.

החזרות

החזרות

אנו עושים כמיטב יכולתנו להבטיח שהמוצרים שאתם מזמינים יישלחו אליכם במלואם ובהתאם למפרט שלכם. עם זאת, אם תקבלו הזמנה חלקית, או פריטים שונים מאלו שהזמנתם, או שיש סיבה אחרת לכך שאינכם מרוצים מההזמנה, באפשרותכם להחזיר את ההזמנה, או כל אחד מהמוצרים הכלולים בהזמנה, ולקבל החזר מלא עבור הפריטים.

הצג מדיניות ההחזרים המלאה