High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

‏469.00 ₪
+ ‏121.99 ₪ משלוח

High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

נמכר על ידי:
  • product image

‏469.00 ₪

במלאי
+ ‏121.99 ₪ משלוח

מדיניות החזרות ל-14 יום

אמצעי תשלום:

פרטי מוצר

פרטי מוצר

High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

The Rapid Growth In The Applications Of Electronic Materials Has Created An Increasing Demand For Reliable Techniques For Examining And Characterizing These Materials. This Book Explores The Area Of X-ray Diffraction And The Techniques Available For Deployment In Research, Development, And Production. It Maps The Theoretical And Practical Background Necessary To Study Single Crystal Materials Using High Resolution X-ray Diffraction And Topography.
  • מותג: Taylor & Francis Ltd
  • קטגוריה: מחשוב ואינטרנט
  • מספר עמודים: 264
  • שָׂפָה: English
  • מְחַבֵּר: D.K. Bowen
  • מוציא לאור / תווית: Taylor & Francis Ltd
  • פוּרמָט: Paperback
  • תאריך פרסום: 2019-10-10
  • מזהה Fruugo: 550920494-1115598663
  • ISBN: 9780367400637
משלוח

מְסִירָה

שילוח תוך 24 שעות

  • STANDARD: ‏121.99 ₪ - משלוח בין יום ב׳ 16 נובמבר 2026–יום ו׳ 04 דצמבר 2026

משלוח מ- בריטניה.

החזרות

החזרות

אנו עושים כמיטב יכולתנו להבטיח שהמוצרים שאתם מזמינים יישלחו אליכם במלואם ובהתאם למפרט שלכם. עם זאת, אם תקבלו הזמנה חלקית, או פריטים שונים מאלו שהזמנתם, או שיש סיבה אחרת לכך שאינכם מרוצים מההזמנה, באפשרותכם להחזיר את ההזמנה, או כל אחד מהמוצרים הכלולים בהזמנה, ולקבל החזר מלא עבור הפריטים.

הצג מדיניות ההחזרים המלאה