Kelvin Probe Force Microscopy Measuring And Compensating Electrostatic Forces

‏524.00 ₪
+ ‏122.99 ₪ משלוח

Kelvin Probe Force Microscopy Measuring And Compensating Electrostatic Forces

נמכר על ידי:
  • product image

‏524.00 ₪

במלאי
+ ‏122.99 ₪ משלוח

מדיניות החזרות ל-14 יום

אמצעי תשלום:

פרטי מוצר

פרטי מוצר

Kelvin Probe Force Microscopy Measuring And Compensating Electrostatic Forces

Over The Nearly 20 Years Of Kelvin Probe Force Microscopy, An Increasing Interest In The Technique And Its Applications Has Developed. This Book Gives A Concise Introduction Into The Method And Describes Various Experimental Techniques. Surface Potential Studies On Semiconductor Materials, Nanostructures And Devices Are Described, As Well As Application To Molecular And Organic Materials.
  • מותג: Springer Nature B.V
  • קטגוריה: מחשוב ואינטרנט
  • מספר עמודים: 348
  • שָׂפָה: English
  • מְחַבֵּר: Springer Nature B.V
  • מוציא לאור / תווית: Springer Nature B.V
  • פוּרמָט: Paperback
  • תאריך פרסום: 2013-11-30
  • מזהה Fruugo: 557245871-1125515704
  • ISBN: 9783642271137
משלוח

מְסִירָה

שילוח תוך 24 שעות

  • STANDARD: ‏122.99 ₪ - משלוח בין יום ד׳ 18 נובמבר 2026–יום ג׳ 08 דצמבר 2026

משלוח מ- בריטניה.

החזרות

החזרות

אנו עושים כמיטב יכולתנו להבטיח שהמוצרים שאתם מזמינים יישלחו אליכם במלואם ובהתאם למפרט שלכם. עם זאת, אם תקבלו הזמנה חלקית, או פריטים שונים מאלו שהזמנתם, או שיש סיבה אחרת לכך שאינכם מרוצים מההזמנה, באפשרותכם להחזיר את ההזמנה, או כל אחד מהמוצרים הכלולים בהזמנה, ולקבל החזר מלא עבור הפריטים.

הצג מדיניות ההחזרים המלאה