Quantitative Measurements Of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy Afm - Qua

‏289.00 ₪
+ ‏122.99 ₪ משלוח

Quantitative Measurements Of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy Afm - Qua

נמכר על ידי:
  • product image

‏289.00 ₪

במלאי
+ ‏122.99 ₪ משלוח

מדיניות החזרות ל-14 יום

אמצעי תשלום:

פרטי מוצר

פרטי מוצר

Quantitative Measurements Of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy Afm - Qua

The Atomic Force Microscope (afm) Was Originally Utilised For Its Imaging Capabilities. The Full Potential Of The Afm As A Three-dimensional Force Profiling Instrument Is Only Now Being Realised In An Increasingly Broad Range Of Fields. One Of The Key Requirements For Afm Measurements Is The Quantification Of Both In-plane And Out-of-plane Forces Acting Between The Tip And The Sample.
  • מותג: KS OmniScriptum Publishing
  • קטגוריה: מחשוב ואינטרנט
  • מספר עמודים: 176
  • שָׂפָה: English
  • מְחַבֵּר: Gregory Shaun Watson
  • מוציא לאור / תווית: KS OmniScriptum Publishing
  • פוּרמָט: Paperback
  • תאריך פרסום: 2008-06-23
  • מזהה Fruugo: 557246231-1125516060
  • ISBN: 9783639024616
משלוח

מְסִירָה

שילוח תוך 24 שעות

  • STANDARD: ‏122.99 ₪ - משלוח בין יום ד׳ 18 נובמבר 2026–יום ג׳ 08 דצמבר 2026

משלוח מ- בריטניה.

החזרות

החזרות

אנו עושים כמיטב יכולתנו להבטיח שהמוצרים שאתם מזמינים יישלחו אליכם במלואם ובהתאם למפרט שלכם. עם זאת, אם תקבלו הזמנה חלקית, או פריטים שונים מאלו שהזמנתם, או שיש סיבה אחרת לכך שאינכם מרוצים מההזמנה, באפשרותכם להחזיר את ההזמנה, או כל אחד מהמוצרים הכלולים בהזמנה, ולקבל החזר מלא עבור הפריטים.

הצג מדיניות ההחזרים המלאה