Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis Third Edition

‏409.00 ₪
+ ‏122.99 ₪ משלוח

Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis Third Edition

נמכר על ידי:
  • product image

‏409.00 ₪

במלאי
+ ‏122.99 ₪ משלוח

מדיניות החזרות ל-14 יום

אמצעי תשלום:

פרטי מוצר

פרטי מוצר

Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis Third Edition

This Text Provides Students As Well As Practitioners With A Comprehensive Introduction To The Field Of Scanning Electron Microscopy (sem) And X-ray Microanalysis. The Authors Emphasize The Practical Aspects Of The Techniques Described. Topics Discussed Include User-controlled Functions Of Scanning Electron Microscopes And X-ray Spectrometers And The Use Of X-rays For Qualitative And Quantitative Analysis.
  • מותג: Springer Nature B.V
  • קטגוריה: מחשוב ואינטרנט
  • מספר עמודים: 720
  • שָׂפָה: English
  • מְחַבֵּר: Joseph Goldstein
  • מוציא לאור / תווית: Springer Nature B.V
  • פוּרמָט: Paperback
  • תאריך פרסום: 2013-05-31
  • מזהה Fruugo: 557060563-1125329059
  • ISBN: 9781461349693
משלוח

מְסִירָה

שילוח תוך 24 שעות

  • STANDARD: ‏122.99 ₪ - משלוח בין יום ד׳ 18 נובמבר 2026–יום ג׳ 08 דצמבר 2026

משלוח מ- בריטניה.

החזרות

החזרות

אנו עושים כמיטב יכולתנו להבטיח שהמוצרים שאתם מזמינים יישלחו אליכם במלואם ובהתאם למפרט שלכם. עם זאת, אם תקבלו הזמנה חלקית, או פריטים שונים מאלו שהזמנתם, או שיש סיבה אחרת לכך שאינכם מרוצים מההזמנה, באפשרותכם להחזיר את ההזמנה, או כל אחד מהמוצרים הכלולים בהזמנה, ולקבל החזר מלא עבור הפריטים.

הצג מדיניות ההחזרים המלאה