Scanning Transmission Electron Microscopy Advanced Characterization Methods For

‏329.00 ₪
+ ‏120.99 ₪ משלוח

Scanning Transmission Electron Microscopy Advanced Characterization Methods For

נמכר על ידי:
  • product image

‏329.00 ₪

במלאי
+ ‏120.99 ₪ משלוח

מדיניות החזרות ל-14 יום

אמצעי תשלום:

פרטי מוצר

פרטי מוצר

Scanning Transmission Electron Microscopy Advanced Characterization Methods For

This Book Focuses On Explaining And Applying The Principles Of Machine Learning-based Techniques And Advanced Image Processing Methods Currently In The Electron Microscopy Community Suitable For Handling Large Electron Microscopy Data Sets And Extracting Structure-property Information For Various Materials.
  • מותג: Taylor & Francis Ltd
  • קטגוריה: מחשוב ואינטרנט
  • מספר עמודים: 164
  • שָׂפָה: English
  • מְחַבֵּר: Taylor & Francis Ltd
  • מוציא לאור / תווית: Taylor & Francis Ltd
  • פוּרמָט: Paperback
  • תאריך פרסום: 2024-10-07
  • מזהה Fruugo: 550923903-1115602109
  • ISBN: 9780367655389
משלוח

מְסִירָה

שילוח תוך 24 שעות

  • STANDARD: ‏120.99 ₪ - משלוח בין יום ו׳ 13 נובמבר 2026–יום ה׳ 03 דצמבר 2026

משלוח מ- בריטניה.

החזרות

החזרות

אנו עושים כמיטב יכולתנו להבטיח שהמוצרים שאתם מזמינים יישלחו אליכם במלואם ובהתאם למפרט שלכם. עם זאת, אם תקבלו הזמנה חלקית, או פריטים שונים מאלו שהזמנתם, או שיש סיבה אחרת לכך שאינכם מרוצים מההזמנה, באפשרותכם להחזיר את ההזמנה, או כל אחד מהמוצרים הכלולים בהזמנה, ולקבל החזר מלא עבור הפריטים.

הצג מדיניות ההחזרים המלאה