Thin Film Materials Stress Defect Formation And Surface Evolution

‏499.00 ₪
+ ‏122.99 ₪ משלוח

Thin Film Materials Stress Defect Formation And Surface Evolution

נמכר על ידי:

‏499.00 ₪

במלאי
+ ‏122.99 ₪ משלוח

מדיניות החזרות ל-14 יום

אמצעי תשלום:


פרטי מוצר

פרטי מוצר

Thin Film Materials Stress Defect Formation And Surface Evolution

Thin Film Mechanical Behavior And Stress Presents A Technological Challenge For Materials Scientists, Physicists And Engineers. Describing Fundamental Concepts With Practical Case Studies, Highly Illustrated, Thorough Referencing And Containing Numerous Homework Problems, This Book Will Be Essential For Graduate Courses On Thin Films And The Classic Reference For Researchers.
  • מותג: Cambridge University Press
  • קטגוריה: מחשוב ואינטרנט
  • מספר עמודים: 770
  • שָׂפָה: English
  • מְחַבֵּר: Ben Freund
  • מוציא לאור / תווית: Cambridge University Press
  • פוּרמָט: Hardcover
  • תאריך פרסום: 2010-12-09
  • מזהה Fruugo: 556917652-1125151275
  • ISBN: 9780521822817
משלוח

מְסִירָה

שילוח תוך 24 שעות

  • STANDARD: ‏122.99 ₪ - משלוח בין יום ד׳ 18 נובמבר 2026–יום ג׳ 08 דצמבר 2026

משלוח מ- בריטניה.

החזרות

החזרות

אנו עושים כמיטב יכולתנו להבטיח שהמוצרים שאתם מזמינים יישלחו אליכם במלואם ובהתאם למפרט שלכם. עם זאת, אם תקבלו הזמנה חלקית, או פריטים שונים מאלו שהזמנתם, או שיש סיבה אחרת לכך שאינכם מרוצים מההזמנה, באפשרותכם להחזיר את ההזמנה, או כל אחד מהמוצרים הכלולים בהזמנה, ולקבל החזר מלא עבור הפריטים.

הצג מדיניות ההחזרים המלאה